CMOS电路热载流子可靠性设计
罗宏伟,孙青
信息产业部电子第5研究所!广州510610信息产业部电子第5研究所!广州510610
Abstract: 本文通过对影响ＭＯＳＦＥＴ器件热载流子可靠性的主要因素的讨论，提出了ＣＭＯＳ电路中热载流子可靠性设计的一般性策略，并从电路、结构和工艺等方面提出了几种典型的应用方法。
- Series：
(I) Electronic Technology ＆ Information Science
- Subject：
Wireless Electronics
- Classification Code：
TN43
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